Трудовая функция "Разработка и аттестация методик измерений для обеспечения установленных норм точности при контроле характеристик инновационной продукции наноиндустрии"

Код
B/02.6
Уровень квалификации
6
Трудовые действия
  • Подготовка предложений о необходимости в разработке методик измерений по результатам анализа потребностей организации
  • Определение порядка проведения измерения или испытания с целью набора экспериментальных данных для расчета показателей точности с целью аттестации методики измерений
  • Разработка методик измерений параметров инновационной продукции наноиндустрии
  • Проведение аттестации методик измерений параметров инновационной продукции наноиндустрии и технологических процессов, применяемых в организации
Требования к образованию и обучению
  • Законодательство Российской Федерации, регламентирующее вопросы единства измерений и метрологического обеспечения
  • Принципы нормирования точности измерений
  • Эксплуатационная документация и требования безопасности при проведении технического обслуживания оборудования
  • Параметры продукции и технологических процессов, подлежащие измерениям
  • Физические принципы работы, область применения и принципиальные ограничения методов и средств измерений
  • Документы по стандартизации, регламентирующие вопросы разработки методик и процедур аттестации методик измерений
  • Общие требования к испытательным и калибровочным лабораториям
  • Технический английский язык в области метрологического обеспечения
  • Требования системы экологического менеджмента и системы менеджмента производственной безопасности и здоровья
Требования к опыту практической работы
  • Определять требования к средствам измерений и вспомогательным устройствам
  • Определять требования к факторам, влияющим на погрешность (неопределенность) измерений
  • Разрабатывать алгоритм обработки результатов измерений и оценки показателей точности измерений
  • Исследовать и анализировать показатели точности аттестуемых методик измерений
  • Оформлять результаты разработки и аттестации методик измерений